瞬态表面光电压谱仪（TPV）

1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检查技能应用于半导体资料的特征参数和外表特性研讨上，这种光谱技能称为外表电压技能（Surface Photovoltaic Technique，简称SPV）或外表光电压谱（Surface Photovoltaic Spectroscopy，简称SPS）。外表光电压技能是一种研讨半导体特征参数的极佳途径，这种办法是经过对资料光致外表电压的改动进行剖析来取得有关信息的。

表面光电压谱仪 (SPV、SPC、SPS)

半导体材料的光生电压性能的测试分析、可开展光催化等方面的机理研究，应用于太阳能电池、光解水制氢等方面的研究，可用于研究光生电荷的性质，如：光生电荷扩散方向；解析光生电荷属性等。主要代表材料有TiO2、ZnO、CdS、GaAs、CdTe、CdSe等。

瞬态表面光电压测试系统：揭示光生载流子动力学的精密利器

瞬态表面光电压测试系统是研究光催化材料、太阳能电池及半导体器件中光生载流子迁移与复合动力学的核心表征工具，其测量精度直接决定材料界面电荷分离效率的评估准确性。针对传统测试方法存在的时间分辨率不足、空间灵敏度低及多物理场耦合缺失等痛点，新一代瞬态表面光电压系统通过超快激光激发技术、微区扫描成像模块及多模态原位联用接口，实现了从皮秒级载流子寿命解析到微米级空间电荷分布可视化的全维度分析。