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BSD-PS系列比表面及孔径分析仪

型号:BSD-PS

产地:北京

简介:在低温(如:液氮浴,77.3K)条件下,向样品管内通入一定量的吸附质气体(如:N2),通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压,通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量;通过逐...

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测试原理:

在低温(如:液氮浴,77.3K)条件下,向样品管内通入一定量的吸附质气体(如:N2),通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压,通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量;通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力,得到吸附等温线;通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力,得到脱附等温线;相对动态法,无需载气(He),无需液氮杯反复升降;由于待测样品是在固定容积的样品管中,吸附质相对动态色谱法不流动,故叫静态容量法 ;

测试理论:

吸附、脱附等温线测定            BET比表面测定(单点/多点法);

朗格缪尔(Langmuir)比表面         统计吸附层厚度法外比表面; 

BJH法孔容孔径分布              MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布; 

D-R法微孔分析                  t-plot法(Boder)微孔分析;

H-K法(Original)微孔分析         MP法(Brunauer) 微孔分析;

DFT孔径分析;                  真密度测试、粒度估算报告;

具有IASTL理论模型            吸附/脱附报告模型


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